Наш сайт использует куки-файлы для статистической оценки и улучшения нашего предложения.
Защита данных
header-grafik-pi-overview
Вы здесь: Optris RUПродукцияИнфракрасные камерыСерия Optris PIPI 640i Микроскопная оптика

Продукция

Инфракрасные термометры и инфракрасных камер

  • Описание
  • Подробные технические характеристики
  • Области применения
  • Спецификация и руководство по эксплуатации
  • Программное обеспечение

Микроскопная оптика для исследования печатных плат

Инновационная микроскопная оптика в инфракрасных камерах optris PI 640 позволяет выполнять точное и достоверное измерение температуры на печатных платах. При этом фокусировать можно как печатную плату в целом, так и проводить детальную макрофотосъемку с оптическим разрешение в 28 мкм. Измерительный интервал между камерой и объектом можно настраивать в диапазоне от 80 до 100 мм.

Высококачественное крепление для стола, которое включено в комплект поставки, позволяет просто и предельно точно проводить юстировку камеры.

Важные характеристики:

  • Анализ микрокомпонентов с разрешением до 28 мкм
  • Одновременное проведение проверки электрических компонентов и термического анализа
  • Сменные объективы с возможностью фокусировки для максимально гибкого использования камеры
  • С температурным разрешением (NETD) 80 мК

 

Подробные технические характеристики

 

Комплект поставки:

Инфракрасные камеры optris или PI 640i
• Микроскопная оптика (MO44)
• крепление для стола
• USB-кабель (1 м)
• Стандартный интерфейс процесса
• Прочный транспортировочный футляр
• Пакет ПО optris PIX Connect

 

Подробные технические характеристики optris PI Микроскопная оптика

  • наименьшее измерения пятна: PI 640i: 28 мкм
  • Микроскопная оптика (FOV):
    PI 640i 12° x 9° (F=1.1) / f= 44 мм
  • расстояние измерения: 80 – 100 мм
  • Диапазоны температуры (scalable):
    –20 ... 100 °C, 0 ... 250 °C, 150 ... 900 °C
  • PI 640i FPA,
    640 x 480 пикселей @ 32 Hz
    640 x 120 пикселей @ 125 Hz
  • Спектральный диапазон: 8 – 14 мкм
  • Системная точность (При температуре окружающего воздуха 23 ±5 °C): ±2 °C или ±2 %, действует соответственно большее значение
  • Температурный коэффициент: ± 0,05 %/K 1)
  • Температурная чувствительность (NETD)
    PI 640i: 40 мK
  • Интерфейсы ПК: USB 2.0
  • Интерфейс процесса Стандартный (PIF)
    0–10 B вход, цифровой вход (max. 24 B), 0–10 B выход
  • Интерфейс процесса Промышленный (IPF)
    2x 0–10 B вход, цифровой вход (max. 24 B),
    3x 0–10 B выход, 3x реле (0–30 B / 400 mA), реле защиты от сбоев
  • Длины кабеля (USB): 1 м (стандарт), 3 м, 5 м, 10 м et 20 м
  • Температура окружающего воздуха (Tокр):
    PI 640i: 0 ... 50 °C
  • Температура хранения: –40 ... 70 °C
  • Относительная влажность воздуха: 10 – 95 %, без конденсации
  • Корпус (размер / класс защиты): 46 мм x 56 мм x 130 мм / IP 67 (NEMA 4)
  • Вес: 370 г, вкл. объектив
  • Удар/вибрация2) IEC 60068-2
  • Крепление штатива 1/4 – 20 UNC
  • Электропитание через USB
  • Коэффициент излучения 0.100...1.100
  • Программное обеспечение optris PIX Connect / Windows et Linux SDKs

1)Tamb 10...50 °C и Tobj ≤ 500 °C; другое: ± 0,1 K/K или 0,1%/K (в зависимости от того, что больше)

2)Для получения более подробной информации см. руководство оператора

Области применения микроскопной оптики

Инфракрасная микроскопная оптика optris позволяет проводить термический анализ как печатной платы в целом, так и выполнять детальную макрофотосъемку её отдельных компонентов. Отличное термическое и геометрическое разрешение камер обеспечит регистрацию минимальной разницы температур и гарантирует, тем самым, эффективное и высокоточное исследование функций в электронных устройствах.

ПО optris PI Connect в комплекте

ПО по термографии optris PIX Connect было специально разработано для обширного документирования и анализа тепловых диаграмм. Оно позволяет проводить термографический анализ в режиме реального времени и дистанционно управлять тепловизором, а также задействовать режим однострочной камеры.

Кроме этого, ПО предлагается без лицензионных ограничений и может быть адаптировано под индивидуальные требования заказчиков.

Наши партнеры в России
МЕТРОЛОГИЯ - СЕРВИС
МЕТРОЛОГИЯ - СЕРВИС
Downloads

Загрузка Principes de base IR.pdf Principe de base IR (3.5 MB)